FT-17DT
Тестер микросхем FT-17DTСовтестТестовая система FT-17DTпредставляет собой настольный вариант тестера FT-17HF (англ.: DT, desk top – настольный), предыдущей разработки специалистов «Совтест АТЕ» в...
View ArticleКомплексное решение для контроля параметров MEMS
Комплексное решение для контроля параметров MEMSМикроэлектромеханические системы (МЭМС) – небольшие устройства, объединенные с полупроводниковыми приборами и сочетающие характеристики электронных схем...
View ArticleЭКБ
Манипуляторы для тестирования ЭКБНазначениеМанипуляторы предназначены для подключения к системам электротестирования с целью контроля параметров изделий микроэлектроники при температурах от минус 60 до...
View ArticleEDA
Комплексы электротермотренировки EDA Industries (Италия)EDA IndustriesКомплексы для проведения электротермотренировки изделий микроэлектроники в соответствии с требованиями Российских и международных...
View ArticleAccretech
Автоматические зондовые установки для тестирования полупроводниковых пластин (Accretech, Япония)Accretech НазначениеЗондовые установки применяются в производстве микроэлектроники и предназначены для...
View ArticleFTT-17
Универсальный комплекс электротермотренировки FTT-17Комплексы электротермотренировки ООО «Совтест АТЕ» предназначены для широкого применения как в условиях серийного производства, на этапах...
View ArticleFT-17R
Тестер реле FT-17RКомпания ООО «Совтест АТЕ» представляет свою новую разработку – многофункциональный тестер реле FT-17R, который предназначен для измерения параметров электромагнитных реле постоянного...
View ArticleFT-17HF
Тестер функционального и параметрического контроля FT-17HFОсновное назначение комплекса – параметрический, динамический и функциональный контроль цифровых и цифро-аналоговых микросхем на частотах до...
View ArticleTeradyne
Тестеры микросхем для функционального и параметрического контроля ИС и СБИС, Teradyne, СШАTeradyneТестеры микросхем производства компании Teradyne, США предназначены для функционального и...
View Article
More Pages to Explore .....